根據科研需要,我校對所采設備高溫顯微測試系統進行公開招標采購,誠邀符合政府采購條件的國內外供應商前來報名投標。
一、設備名稱:高溫顯微測試系統
二、報名時間:2010年4月28日—2010年5月2日(正常上班時間內)
三、主要技術指標及要求如下:
擬購儀器、設備技術要求、性能指標、質保要求
高溫顯微測試系統主要完成試樣的表面以及試驗斷口的立體動態旋轉觀察,并能夠進行試驗過程中微裂紋的觀察、分析和測量。主要技術指標包括:
1、主控制系統:
CCD攝像頭,1/1.8英寸,要求:靜態像素支持3000萬,動態像素支持200萬
二維定量測量及三維顯微掃描輪廓測量系統,要求:具有景深合成功能,并能進行任意方式的距離測量
高清晰度顯示系統及存儲系統,要求:分辨率1600*1200,硬盤不小于160G,同時能夠進行各種圖形格式的輸出
光源系統:要求:使用壽命大于5000小時
2、 載物臺及鏡頭支架:
能夠進行三個方向的移動,調節行程大于50mm,微調精度:z方向小于0.5um,其于兩個方向1um,并能夠進行3600旋轉
3、 宏觀鏡頭:
對宏觀試樣及斷口進行分析,觀察范圍為對角線長度為1~8mm,并能夠與支架配合對觀測樣品實現全方位,多角度觀察
4、 微觀鏡頭
為對試樣進行細觀分析,需放大倍數為5000倍,分辨率為0.35 um
5、 長距離顯微鏡頭
要求工作距離為0.5m,放大倍數為400倍,分辨率為1um,并能夠進行各個方向的調節。
質保要求:
設備交付驗收后,一年內免費保修。公司承諾在售后服務將應用戶要求,在24小時內做出反應。保修期過后,將由供貨公司繼續提供終身服務,軟件終身免費升級。
四、報名地址:***
聯系人***
聯系電話***
五、招標時間如有變動,另行電話通知。